Homelander The Seven
I will laser every f****** one of you!
Một bước tiến mới trong lĩnh vực hóa học pin hứa hẹn mang đến "pin nhỏ hơn, nhẹ hơn và rẻ hơn mà không ảnh hưởng đến hiệu suất pin ở cuối vòng đời". Vào ngày 13 tháng 9, các nhà nghiên cứu từ khắp Hoa Kỳ đã công bố một bài báo hợp tác với Phòng thí nghiệm Quốc gia Argonne của Bộ Năng lượng có tiêu đề "Hydrogen hóa oxit qua trung gian dung môi trong catốt lớp", với các nhận xét bổ sung và bản tóm tắt trong thông cáo báo chí chính thức trên trang web của Phòng thí nghiệm Quốc gia Argonne. Nói tóm lại, các nhà nghiên cứu đã sử dụng công nghệ tia X tiên tiến có sẵn tại Phòng thí nghiệm Quốc gia Argonne và Nguồn Photon Tiên tiến của nó, kết hợp nghiên cứu tia X và điện hóa để cho phép các nhà nghiên cứu kiểm tra pin của họ ở cấp độ phân tử.
Theo nhà hóa học cấp cao của Argonne, Zonghai Chen, "Tự xả là hiện tượng xảy ra ở tất cả các thiết bị điện hóa có thể sạc lại. Quá trình này từ từ tiêu thụ các vật liệu pin chức năng quý giá và lắng đọng các sản phẩm phụ không mong muốn trên bề mặt của các thành phần pin. Điều này dẫn đến sự suy giảm liên tục hiệu suất pin.”
Trong trường hợp này, việc sử dụng thiết bị cao cấp cho phép các nhà nghiên cứu kết nối một mắt xích quan trọng còn thiếu trong nghiên cứu hiện có bằng cách có được cái nhìn phân tử về pin lithium-ion đang hoạt động, điều mà trước đây không thể thực hiện được. Điều này cho phép các nhà nghiên cứu xác định một quá trình cụ thể: hydro hóa catốt, là quá trình "chuyển động proton và electron từ dung môi điện phân sang các oxit lớp tích điện cao trong catốt". Phản ứng hóa học này dẫn đến sự suy giảm pin và mặc dù pin lithium-ion đã được biết đến là có vấn đề về suy giảm trong một thời gian dài, nhưng nghiên cứu này đã thu hẹp đáng kể nguyên nhân.
Vậy điều này có ý nghĩa gì trong dài hạn? Như Zonghai Chen đã nói: “Bằng cách giảm thiểu sự tự xả, chúng ta có thể thiết kế một loại pin nhỏ hơn, nhẹ hơn và rẻ hơn mà không ảnh hưởng đến hiệu suất pin ở cuối vòng đời.” Đây có thể là một bước tiến lớn hướng tới tương lai pin sạc sẽ không còn là "nỗi ám ảnh" của người dùng.
Theo nhà hóa học cấp cao của Argonne, Zonghai Chen, "Tự xả là hiện tượng xảy ra ở tất cả các thiết bị điện hóa có thể sạc lại. Quá trình này từ từ tiêu thụ các vật liệu pin chức năng quý giá và lắng đọng các sản phẩm phụ không mong muốn trên bề mặt của các thành phần pin. Điều này dẫn đến sự suy giảm liên tục hiệu suất pin.”
Trong trường hợp này, việc sử dụng thiết bị cao cấp cho phép các nhà nghiên cứu kết nối một mắt xích quan trọng còn thiếu trong nghiên cứu hiện có bằng cách có được cái nhìn phân tử về pin lithium-ion đang hoạt động, điều mà trước đây không thể thực hiện được. Điều này cho phép các nhà nghiên cứu xác định một quá trình cụ thể: hydro hóa catốt, là quá trình "chuyển động proton và electron từ dung môi điện phân sang các oxit lớp tích điện cao trong catốt". Phản ứng hóa học này dẫn đến sự suy giảm pin và mặc dù pin lithium-ion đã được biết đến là có vấn đề về suy giảm trong một thời gian dài, nhưng nghiên cứu này đã thu hẹp đáng kể nguyên nhân.
Vậy điều này có ý nghĩa gì trong dài hạn? Như Zonghai Chen đã nói: “Bằng cách giảm thiểu sự tự xả, chúng ta có thể thiết kế một loại pin nhỏ hơn, nhẹ hơn và rẻ hơn mà không ảnh hưởng đến hiệu suất pin ở cuối vòng đời.” Đây có thể là một bước tiến lớn hướng tới tương lai pin sạc sẽ không còn là "nỗi ám ảnh" của người dùng.
